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专题讲座

XPS谱图分析和数据处理

观看:3827 次上传时间:2018-05-18 14:00-16:00
主讲人:讲师:范燕

讲师信息

赛默飞 XPS 应用工程师 硕士 毕业于中国石油大学(北京),硕士期间实习于中国计量科学研究院,主要研究课题为典型碳材料的定性与定量分析,并参与利用XPS进行纳米金颗粒有机壳层厚度的计算及X射线光电子能谱(XPS)能量标尺标物(Au、Ag、Cu)的研制等课题。发表文献:《XPS分析过程中X射线照射对PET的影响》。 本科及硕士期间曾获得“国家励志奖学金”、“山东省省级优秀毕业生”、“一等奖学金”、“校级优秀学生”等荣誉。

内容信息

XPS作为表面分析的重要手段,不仅被广泛地应用于化学分析、材料开发应用研究、物理理论探讨等学术领域,在机械加工、印刷电路技术、镀膜材料工艺控制、纳米功能材料开发等工业领域,XPS都能提供全方位的解决方案。虽然XPS获得的谱图相对非常直观,然而在进行分峰拟合时会有很多疑虑和困惑,如,如何去除其他元素的干扰峰,怎样优化拟合参数等等。本次网络讲堂主要涉及一下几个方面:
XPS实验技术基础简介 
Thermo Avantage软件中图谱的一般处理功能介绍 
XPS图谱谱峰拟合方法介绍 
复杂XPS图谱谱峰分析实例分享
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