应用原子力显微镜实现纳米尺度定量物性测量—PeakForce Tapping 的物理原理解析-布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)-仪器信息网3i讲堂

所属会议:应用原子力显微镜实现纳米尺度定量物性测量—PeakForce Tapping 的物理原理解析

应用原子力显微镜实现纳米尺度定量物性测量—PeakForce Tapping 的物理原理解析

自从2010年PeakForce TappingTM问世以来，全球研究者应用该技术发表了超过1000篇经同行评审的专业文章。其中一些论文出现在高影响期刊，如《自然》和《科学》。 PeakForce Tapping提供了原子和分子级别的高分辨成像，延伸了原子力显微镜的物性测量到一系列前所未有的试样。在本次研讨会上，苏全民（Chanmin Su)博士将阐述PeakForce Tapping 的基本物理原理和实现pico Newton作用力控制的工程方法。本次讨论还将注重多功能物性定量分析以及解析方法。在机械及力学测量之外，我们还将讨论应用PeakForce Tapping 作为纳米尺度电学以及化学测量的工具，如 KPFM，nanoscale IR等。此外，本次研讨会将剖析PeakForce Tapping 技术的几个成功的产生高影响因子的应用案例。这些案例包括材料与生物科学中的高分辨成像，利用PeakForce QNM, KPFM, TUNA和IR作定量属性的分析。最后还对PeakForce Tapping 的最新的技术和未来的潜力进行讨论。