XRF在小样品分析中的应用
X射线荧光光谱作为一种元素分析方法,广泛应用于石化、地质、材料、水泥等行业。在XRF的常规应用中,为了得到具有代表性的结果,通常要求样品有一定的尺寸,并且组成是均匀一致的。但是ARL Perform'X系列高性能XRF光谱仪不仅可以满足常规样品的分析需求,而且可以对小样品或者不均匀样品进行分析,主要包括点分析(Spot)和面分析(Mapping)功能。点分析配合独有的UniQuant无标样分析软件,可以对直径1.5mm或者0.5mm的区域进行定性和定量分析,广泛应用于材料制备过程中所形成的缺陷的研究和处理。面分析能够创建一个高精度的元素分布图像,扫描的分辨率达到0.1mm,可用于与材料的均一性、缺陷、元素梯度分布相关的研究。
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