光电子能谱(XPS)中复杂谱峰的解析
光电子能谱XPS是最常用的表面分析技术,可有效分析材料表面元素及其价态。但是由于在光电子激发发射的过程中普遍伴随有各种效应,使谱峰解析复杂化,在过渡金属元素稀土元素XPS谱图解析中尤为突出。报告通过具体的实例简述电子能级自旋轨道分裂,震激伴峰,多电子损失,俄歇跃迁,C-K跃迁,终态效应等常见现象。关注这些现象有助于我们正确解析XPS谱峰。
北京师范大学
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