基于扫描探针技术在表面及界面进行纳米尺度物理性质定量表征
表面及界面在纳米尺度下的性质对很多物理、化学以及生物过程都有重要影响,甚至是决定性作用。传统的表征技术或分辨率不能在三维上都达到纳米分辨率,或不能原位测量。本报告将以应用实例讨论扫描探针技术的最新进展,除了用于高分辨成像,扫描探针显微技术正在发展成为在纳米尺度进行各种力学、电学、磁学、热学性质的综合定量分析平台。
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