FE-SEM在材料领域的应用
扫描电子显微镜是一种介于光学显微镜和透射电子显微镜之间的一种重要观察手段，其利用高能聚焦电子束作为光源，可实现样品的高分辨观察和分析。本次讲座主要内容： 1. SEM的原理与特点； 2. JEOL FE-SEM应用于材料的高分辨表征； 3. JEOL FE-SEM应用于材料的高效分析； 4. 总结。
430
2021-06-30
投诉
评论（0）
暂无数据
厂商其他视频
-
JEM-ARM200F的性能特点及透射电镜原位观察
陈桐民(捷欧路（北京）科贸有限公司)2024-07-02
-
全固态电池原位观察与分析——CP+SEM+EDS
庞铮(捷欧路（北京）科贸有限公司)2024-06-05
-
使用截面抛光仪制备电子元件截面样品——截面制备原理与封装半导体元件内部截面制备
庞铮(捷欧路（北京）科贸有限公司)2024-05-14
-
专业的汽车生产环境检测系统-PCI系统的介绍
朱明芬(捷欧路（北京）科贸有限公司)2024-03-28
-
JEOL新一代高性能双束系统及环境颗粒检测系统（PCI）的介绍
张 玮(捷欧路（北京）科贸有限公司)2023-12-06
-
日本电子最新核磁技术
陈春燕(捷欧路（北京）科贸有限公司)2023-11-08
×
恐怖血腥
涉黄涉政
色情低俗
其他
×