辉光放电质谱在半导体材料检测中的应用
辉光放电质谱是一种固体直接进样检测技术,具有基体效应小,检出限低,广泛的可同时检测元素范围等优势,已成为固体材料多元素分析尤其是高纯材料分析的强有力的工具。目前被广泛的应用于半导体材料,高纯金属及合金,无机非金属材料及薄层样品的镀层分析/深度分布剖面分析等检测领域。
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