多角度动态光散射(MADLS)结合纳米颗粒跟踪分析(NTA)精准解析颗粒粒径分布
单角度动态光散射技术已经广泛应用于纳米颗粒的粒径表征,但其粒径分辨率不高、粒径结果具有角度依赖性等因素,尤其使得粒径宽分布的纳米颗粒的表征受到了极大的挑战。多角度动态光散射的出现,较大地提升了粒径结果的分辨率,并且其粒径结果的角度依赖性问题也得到了很好的解决,从而极大的提升了粒径宽分布样品粒径表征结果的准确性。纳米颗粒跟踪分析技术因其单颗粒成像跟踪分析原理,具有更高的粒径分辨率,但由于采集颗粒数量有限,往往对于粒径宽分布的样品,其粒径结果重复性不好。本报告提出,在纳米产品的研发阶段,综合多角度动态光散射技术以及纳米颗粒跟踪分析技术,可以更加精确表征纳米产品的粒径分布,并为产品的质量控制环节打下坚实的基础。
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