双光子-受激发射损耗(STED)复合显微成像技术集成及应用
双光子显微镜具有较大的成像深度,但成像分辨率较低,无法观察神经突触等百纳米以内的结构细节;受激发射损耗(STED)超分辨显微镜可以达到几十纳米分辨率,但成像深度只有几十微米,无法观察深层神经组织。 本报告介绍了STED成像关键技术、双光子-受激发射损耗(STED)复合显微成像技术集成及仪器研制情况,仪器集成了双光子成像和STED成像等功能,介绍了双光子-STED成像在难治性癫痫等神经疾病的应用研究情况。
中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
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