智能化设计场发射透射电镜JEM-F200功能介绍和材料表征实例
日本电子场发射透射电镜JEM-F200是目前市面上唯一一款具有自动进出样品杆功能的透射电镜,其操作界面类似智能手机,操作过程非常简便。这些自动化、智能化的设计极大降低了用户的使用门槛,提高了安全系数和实验效率。此外,F200具有优秀的分辨率,轻松实现表征各种类型纳米材料的功能。针对近些年兴起的多孔材料,尤其是电子束敏感材料,F200也能得到原子尺度的表征结果。优秀的分辨率配合装配的大口径、高灵敏度的能谱探测器,F200还可获得优秀的能谱数据。
厂商其他视频
JEM-ARM200F的性能特点及透射电镜原位观察
全固态电池原位观察与分析——CP+SEM+EDS
使用截面抛光仪制备电子元件截面样品——截面制备原理与封装半导体元件内部截面制备
专业的汽车生产环境检测系统-PCI系统的介绍
JEOL新一代高性能双束系统及环境颗粒检测系统(PCI)的介绍
日本电子最新核磁技术
×
×