原子力显微镜样品制备方法介绍
原子力显微镜AFM是在纳米尺度上表征样品形貌的最主要的方法之一,基于样品形貌同时还可选择不同模块研究其电学,磁学,热学,电化学,力学等特性。然而样品制备的合适与否决定了样品形貌及其他特性的准确性。本讲座主要介绍不同类型的样品制备过程及注意点,包括粉末,纤维,电学模块样品等等。样品的制备是所有实验的基础,尤其是AFM样品的形貌测试,不同类型,尺寸及状态的样品的制备好坏决定测试结果是否能真实表征样品的特征结构和尺寸,排除由于样品制备不当导致的样品扭曲,虚像或图像失真。对于同一类型样品,不同制备样品的方式也比较了其优缺点及适用范围。希望讲座可以给大家在实际样品制备带来一些指引。
厂商其他视频
The importance of miniaturization: electronic phenomena at the nanoscale 小型化的重要性:纳米世界的电子现象
Single-molecule chemical reactions probed by Atomic Force Microscopy 原子力显微镜下的单分子化学反应
Visualizing fractional excitations in a Tomonaga-Luttinger liquid
Scanning probe lithography for bottom-up built biomimetic nanostructures 用于自下而上构建仿生纳米结构的扫描探针刻蚀
Materials under the tip: Quantitative imaging of localized functionalities at the nanoscale 探针材料:纳米尺度局部功能的定量成像
Electronic properties of 2D ferroelectric layer based FET's using Kelvin – probe force microscopy 开尔文探针力显微镜下的2D铁电层场效应晶体管的电子特性
×
×