ToF-SIMS 最新一代M6表面分析技术和应用进展--仪器信息网3i讲堂

ToF-SIMS 最新一代M6表面分析技术和应用进展

ToF-SIMS作为一种特殊的表面分析技术，可以接近无损的获取最表面的元素、同位素、分子等信息，拥有高质量分辨和横向空间分辨的同时，还能对样品进行高纵向空间分辨的深度剖析以及三维分析。本报告主要从ToF-SIMS原理和工作模式、最新一代M6的性能优势和技术特色、可选择的多功能解决方案、材料表征和实际的应用进展等几个方面进行技术分享。