方案详情文
果蔬表面污染和损伤的检测对于生产者和消费者来说一直都是很重视的问题。普通的检测方法要么对果蔬表面有一定的损害，要么仅能够检测到部分表征，无法深入分析和检测。应用高光谱成像的方法既能够实现无损检测，又能够快速准确的获取样本的完整的图像信息和光谱信息。通过图像和光谱分析方法，检测果蔬的物理结构、化学成分和表面特征。例如果蔬表面的损伤、腐烂、疤痕、土壤污染、排泄物污染、农药残留、病变、虫蛀、冻伤、重量、长势等。
-
1/1
产品配置单
北京卓立汉光仪器有限公司为您提供《果蔬中表面污染及损伤检测方案(高光谱仪)》，该方案主要用于水果中表面污染及损伤检测，参考标准《暂无》，《果蔬中表面污染及损伤检测方案(高光谱仪)》用到的仪器有GaiaSorter “盖亚”高光谱分选仪、艺术品鉴定高光谱成像仪、近红外高光谱分析仪、标准版成像光谱仪、紫外增强型高光谱成像仪、可见-近红外高光谱成像仪、短波红外增强型高光谱成像仪、碳纳米管光致发光/电致发光近红外光谱及影像分析、光谱相机、成像光谱仪（Imaging Spectrographs）、高光谱成像仪、指纹/笔迹鉴定高光谱成像仪、MicroHSImager-显微高光谱成像仪、BodyImager高光谱成像系统、机载高光谱遥感成像仪、GaiaField 地面目标大范围扫描高光谱成像仪、成像光谱仪、地物/海洋高光谱成像仪、岩心/土壤高光谱成像仪。
我要纠错
相关方案
咨询
