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什么是C-T光学结构

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对这两种典型切尼-特纳光路结构进行理论计算和对比试验后,可得出:交叉型光路结构宽光谱范围内的分辨率呈“V”型,即中心波长处分辨率最高,边缘波长处分辨率最低,而M型光路结构在全光谱范围内变化较小,近似呈“一”型,即后者宽光谱范围内的分辨率一致性远好于前者。

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什么是 C-T光学结构以及两种 C-T结构中的分辨率差异 目前的光谱仪较多的采用 Czerny-Turner(切尼-特纳)光路结构,即以两面凹面反射镜分别作为准直镜和成像镜,以平面反射光栅作为色散元件。这种光路结构的好处有两种:一是平面光栅设计难度低,复制较为容易,衍射效率高,另一方面是由于 Czerny-Turner 结构可调节和布置的结构参数较多,可以通过增加如滤光片轮 SD 等光学元件避免二次和多次衍射,便于采用光电阵列探测器接收光谱。 常见的切尼-特纳光谱仪主要分为交叉型和M 型两种结构。如下图所示。 上图中左所示为交叉型,是由M型演变而来,结构更紧凑,空间利用率高,代表产品是小型光纤光谱仪。上图中右为M型,是C-T光谱仪的经典结构,代表产品是北京卓立汉光公司的谱王系列光谱仪。 对这两种典型切尼-特纳光路结构进行理论计算和对比试验后,可得出:交叉型光路结构宽光谱范围内的分辨率呈“V”型,即中心波长处分辨率最高,边缘波长处分辨率最低,而M型光路结构构全光谱范围内变化较小,近似呈“一”型,即后者宽光谱范围内的分辨率一致性远好于前者。 此结论表明:在切尼-特纳式光栅光谱仪的研制中,如果对于宽光谱分辨率一致性要求较高,则应采用 M 型光路结构。

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北京卓立汉光仪器有限公司为您提供《什么是C-T光学结构》,该方案主要用于其他中null检测,参考标准《暂无》,《什么是C-T光学结构》用到的仪器有高性能影像校正光谱仪 OmniEvo“谱王”、“影像谱王”系列光栅单色仪/光谱仪、Omni-λ系列光栅光谱仪。

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