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随着技术的发展，光学薄膜的光学性能也在厂家的不断提高，市场需要更高端的产品，其中在液晶面板吃起的成产中，也液晶贴的的一层膜的配向角度的优良很大程度上影响生产出来的液晶面板的显示效果的好坏。关于如何了解这一层配向膜（PI）的配向角度，研发人员一直没有合适设备来测量， 近期，日本的phl厂家带来一款通过测量双折射的方法来检测配向角度的设备。
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測定一夕A：： 1.ret 測定子一夕A：： 1.ret 工少了解析 70.0 自動又一儿 X座入力图削除 四角 O円 采用独特的光子晶体技术，研发的一款偏光感应器，可以在极快的时间里侧量出整片薄膜的双折射的分布，和数值。结合强大的软件技术，可以对样品的测量做不同的分析。
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北京欧屹科技有限公司为您提供《COP,PI,PVA,中光学薄膜检测方案 》，该方案主要用于COP,PI,PVA,中光学薄膜检测，参考标准《暂无》，《COP,PI,PVA,中光学薄膜检测方案 》用到的仪器有PHL应力双折射测试仪。
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