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材料科学领域透射电镜和扫描电镜制样方法与技巧 圆派科学 TEM样品制备 样品形状（块材、薄膜、颗粒）、结构性质（紧密的、多空的）、化学性质（有机、无机）、物理性质（软的、硬的、有延展性的）、电学性质（导体、半导体、非导体）各不相同，如何选择合适的制样方法？ 常备制样方法很多，例如：电解双喷、机械减薄、超薄切片、粉碎研磨、聚焦离子束、散焦离子束，各有优缺点，各有局限性，各种方法如何配合使用得到最好的效果？ SEM样品制备 EBSD样品离子束抛光 所有的EBSD样品制备方法都必须保证样品表面不能有任何划痕，因为划痕下面就是严重损伤。一个深的划痕意味着在其下面有一个深的变形存在。为了获得高质量的EBSD花样就必须去除这些划痕和其下面的损伤层。 从各种角度，用不同时间和加速电压进行的离子束抛光用于清洗增加衬度，比起费时费力的湿化学刻蚀方法是更为可取的。 三离子束制备截面样品 优点： · 无污染 · 高质量平整切割截面 · 形变或损伤的可能性最低 · 直接用于SEM微区分析 内容截图 材料科学领域透射电镜和扫描电镜制样方法与技巧圆派科学 TEM样品制备样品形状（块材、薄膜、颗粒）、结构性质（紧密的、多空的）、化学性质（有机、无机）、物理性质（软的、硬的、有延展性的）、电学性质（导体、半导体、非导体）各不相同，如何选择合适的制样方法？常备制样方法很多，例如：电解双喷、机械减薄、超薄切片、粉碎研磨、聚焦离子束、散焦离子束，各有优缺点，各有局限性，各种方法如何配合使用得到最好的效果？SEM样品制备EBSD样品离子束抛光所有的EBSD样品制备方法都必须保证样品表面不能有任何划痕，因为划痕下面就是严重损伤。一个深的划痕意味着在其下面有一个深的变形存在。为了获得高质量的EBSD花样就必须去除这些划痕和其下面的损伤层。从各种角度，用不同时间和加速电压进行的离子束抛光用于清洗增加衬度，比起费时费力的湿化学刻蚀方法是更为可取的。三离子束制备截面样品优点：· 无污染· 高质量平整切割截面· 形变或损伤的可能性最低· 直接用于SEM微区分析内容截图干货满满！
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圆派科学仪器（上海）有限公司为您提供《不同形状、性质的样品中制作方法和技巧检测方案(电镜制样)》，该方案主要用于其他中制作方法和技巧检测，参考标准《暂无》，《不同形状、性质的样品中制作方法和技巧检测方案(电镜制样)》用到的仪器有Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪、Leica EM RES102 多功能离子减薄仪、Leica EM TXP 精研一体机。
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