珠宝中微量元素检测方案(X射线衍射仪)

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XRF 主要应用之四：ROHS 及贵金属珠宝行业 一、ROHS 检测： Cr， Pb， Cd， Br， Hg 电子电气产品中限用物质筛选应用通则X射线荧光光谱法 General rules of screening application of restricted substances in electrical andelectronic products—X-Ray fluorescence spectrometry (报批稿) 常用的电子电气产品限用物质XRF筛选的聚合物类的有证标准物质如表B.1所示。 表B.1常用的电子电气产品限用物质 XRF 筛选聚合物类的有证标准物质 序号 有证参考物质名称 有证参考物质编号 Pb mg/kg Hg mg/kg Cr mg/kg Cd mg/kg Br mg/kg 1 RoHS检测X荧光分析用聚丙烯中镉、铬、汞、铅成 分分析标准物质 GBW(E)081121 98 92 99 9.2 GBW(E)081122 453 370 251 36.8 / GBW(E)081123 961 907 983 92 配套空白标样 2 RoHS检测X荧光分析用ABS中镉、铬、汞、铅成分分析标准物质 GBW(E)086134 93.1 91.5 97.3 8.7 90 GBW(E)086135 276 271 288 26.7 280 GBW(E)086136 378 373 380 36.3 376 GBW(E)086137 778 748 777 76 785 GBW(E)086138 1122 1096 1122 107. 1116 配套空白标样 1 1 1 3 RoHS检测X荧光 分析用PVC中镉、铬、汞、铅成分分析标准物质 GBW(E)082144 87.4 95.9 93.7 5.9 / GBW(E)082145 267 283 277 17.2 / GBW(E)082146 445 470 459 28.9 GBW(E)082147 905 968 930 58.8 GBW(E)082148 1080 1159 1110 70.7 4 聚乙烯中镉、铬、 汞、铅、溴成分分 析标准物质(欧盟) EC681 13.8 4.50 17.7 21.7 98 EC680K 13.6 4.64 20.2 19.6 96 EC681K 98 23.7 100 137 770 5 聚氯乙烯中镉、铬、汞、铅、溴成分分 ①C-H0-C-E-5-028A 0 0 0 0 0 ②C-H0-C-E-5-028A 47 49 29 23 1200 ③C-H0-C-E-5-028A 100 130 110 48 610 表B.2 常用的电子电气产品限用物质 XRF 筛选金属类有证标准物质 序号 有证参考物质编号 标样编号 Pbmg/kg Hg mgkg Cr mgkg Cdmgkg 1 RoHS检测X荧分 析用纯铜合金中 成分 8W2071-1： 空白 小 8W2071-2 37 1 1 BW2071-3 31 1 BW2071-4 18 1 BW2071-5 83 1 1 BW2071-8 135 1 1 BW2071-7 243 1 1 BW2071-8 448 1 BW2071-9 876 BW2071-10 1118 BW2071-11 514 2 RoHS检测X荧光分 析用黄铜合金中船 成分 BW2073-1 3137 8W2073-2 1033 1 8W2073-3 191 1 BW2073-4 169 1 BW2073-5 282 1 BW2073-6 83 BW2073-7 32 1 3 BYG2004 41 7700 1 42 16600 1 / 43 28200 1 44 42800 1 / 45 59900 1 1 4 RoHS检测X荧光分 析用铝黄铜合金中 铅成分 BW2072-1 1390 1 BW2072-2 862 1 1 BW2072-3 512 1 1 BW20724 328 1 1 BW2072-5 108 二、贵金属珠宝行业 EDXRF 是鉴定宝石真伪及其产地的重要工具――快速无损。 不同的地质环境微量元素组成不同，可通过对宝石的定性及定量追踪原产地。 某些微量元素可以很好的区分天然形成的宝石或是人工合成宝石。 三、测镀层和薄膜厚度 完全无标样镀层测厚和超薄薄膜测厚。 适用于材料生产中各种元素薄膜和各种金属镀层应用分析。 应用特点： *可以测定多至6层镀的镀层厚度，质量和成份 *分析镀层元素范围： Na-U *测试厚度范围：纳米-微米或ng/cm2-g/cm2 *软件自动进行厚度和基体效应的校正(包括层内和层间的吸收，二次荧光和基板荧光等)