方案详情文
西凡硅油涂布量分析仪可以使离型膜行业能够执行精确、快速和低成本的测试，使生产商在保持利润的同时更容易满足产品规格。
智能文字提取功能测试中
准确获得纸张、薄膜和离型膜上有机硅涂层的厚度和质量至关重要。涂层太薄，可能无法充分脱离，将导致产品无法使用；如果涂层太厚，生产成本会变得过高。如果将粘合纸或粘合膜用于PCB，则粘合层上的任何残留有机硅均可能对性能产生不利影响，因此必须严格控制有机硅层的质量。 西凡硅油涂布量分析仪可以使离型膜行业能够执行精确、快速和低成本的测试，使生产商在保持利润的同时更容易满足产品规格。推荐仪器XF-S5700硅油涂布量分析仪XF-S5700型硅油涂布量分析仪是一款面向硅油涂层面密度检测的X射线荧光光谱仪，可广泛应用于硅油涂布行业产品工艺及成本的管理。该产品既可以分析PET薄膜，还可以分析格拉辛、淋膜纸及牛皮纸等多种硅油涂布量。该产品同时支持选装多位转盘，装好样品后，可一次性检测10个样品位。检测速度快，测试稳定性好、准确性高。测试案例
关闭-
1/2
-
2/2
产品配置单
西凡仪器（深圳）有限公司为您提供《硅油涂布量中密度、厚度分析检测方案(能散型XRF)》，该方案主要用于其他中其他检测，参考标准《暂无》，《硅油涂布量中密度、厚度分析检测方案(能散型XRF)》用到的仪器有西凡硅油涂布量分析仪XF-S5700。
我要纠错
推荐专场
X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪）
更多
相关方案
咨询
