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使用配备 UMA 附件的 Cary 5000 测量折射率和薄膜厚度
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前言基于光（紫外到红外）的光学特性的技术广泛使用了多层光学涂层[1]。要想成功设计和制造光学涂层，需要获得准确可靠的层状薄膜结构的折射率、吸收系数和厚度信息。无损检测方法是成功研究薄膜结构特性的首选方法。表征层状薄膜结构的基本方法与表征散装材料的光学技术截然不同。通常采用椭圆光度法来表征薄膜的光学特性，该方法是一种基于样本反射光偏振态分析的光学技术。现在还有另一种多用途无损光学技术可供选择 ― 多角度分光光度法[2, 3]。入射偏振光反射率和透射率的光谱和角函数由配备相应附件的分光光度计获得。
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安捷伦科技(中国)有限公司为您提供《两种层状结构的光学特性和厚度》，该方案主要用于玻璃中光学特性和厚度检测，参考标准《暂无》，《两种层状结构的光学特性和厚度》用到的仪器有Cary 5000 紫外可见近红外分光光度计。
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