光电薄膜,MEMS器件,半导体器件中薄膜残余应力检测方案(半导体检测仪)
附件预览
1/30
2/30
3/30
4/30
5/30
6/30
7/30
8/30
9/30
10/30
11/30
12/30
13/30
14/30
15/30
16/30
17/30
18/30
19/30
20/30
21/30
22/30
23/30
24/30
25/30
26/30
27/30
28/30
29/30
30/30
深圳市速普仪器有限公司
返回详情
配置单
产品配置单
检测仪器
速普仪器【SuPro】薄膜应力测量仪FST5000
速普仪器 其他
¥60万
留言咨询
检测仪器
速普仪器【SuPro】薄膜残余应力仪FST1000
速普仪器 纳米压痕仪、划痕仪
¥50万
留言咨询
检测仪器
【速普仪器】涂层厚度测量仪/球坑测厚仪BCT1000
速普仪器 电磁/电涡流测厚仪
¥5万
留言咨询
检测仪器
速普仪器【SuPro】薄膜应力测试仪FST 5000
速普仪器 薄膜应力测试仪
¥60万
留言咨询