alexright
第1楼2009/08/20
接上文
似乎很长时间没有做这个工作了。接下来再提起的时候,又提出了新的要求:必须马上就要能够做试样。(也就是能应用于实际生产,而不是研究室里使用)这个时候基本上一些条件都已经默认了下来。
比例 力矩 冷却时间 保护气流量 熔融时间
4:1(32g:8g) 最大 3s 200L/h 70s~85s
这也是结合了在锰铁试验中的经验得来的。
后面的一些工作就是围绕Cr的准确性来进行的。这个时候主要考虑到的就是光洁度对试样测量的影响。不得已作了2条线,2条线的Cr值相差大约为0.6,这样做的唯一目的就是希望能够根据光洁度来选择不同的曲线。如果要真正靠眼睛来判断选择哪条曲线,是有很大的偏差的,尤其是在更换了砂轮片之后更加的明显。曾经试图将2条线分别测量,然后平均,这也是一个没有办法的办法。但是,如果要真正的平均,那也要选择最粗的表面和最细的表面,而两者的差值相差可能达到2%,所以来说,更加的不可实施。现在唯一能做的是,依靠控制样品。不同的范围选择不同含量的控制样品。
注:这里说明了2个时钟理论——也就是2个时钟永远确定不了正确的时间。依靠化学比对是一个非常好的途径。
同时,这个阶段中,也对硅的结果进行了比对。只比对过一次,较国家标准的允许差还有一定差距,但是,同研磨试样相比,有了一些改进,但是不是很明显。也因为一直对坩埚的影响不能定量,甚至是不能确定的,主要的原因有:
一、标准曲线本身就有问题。标准曲线的制作是利用二次坩埚熔融的,当然这样做是为了与平常试样保持一致性,因为考虑到平时的试样肯定不可能是都有新的坩埚,所以如此制作了工作曲线。但同时又由于一些标准样品的粒度太细(是原来已经研磨过),又采用的新坩埚,导致这条曲线是不伦不类。最后采取的方案是放弃后来新坩埚的点。目前的情况,硅的低端的点还不能确定。做过的一组数据如下:
采用同一个旧坩埚、同一试样熔融,1、2、3连续熔融,4和5连续熔融
1 2 3 4 5
0.62 0.64 0.62 0.66 0.63
化学值为0.75,注意,这个值可以校正到化学值。这也说明了低端值不能确定。
注:低含量确实不好分析,现在问题不大。和助熔剂的纯度有关,也和标准值有关。上面这个问题主要是采用了不同批次的熔剂导致的偏差,同时与工作曲线的低端绘制有关。
二、试样本身的问题。曾经分析过含镍碳铬,其中熔融的硅值就和磨样的结果差很远,一个为0.9,一个为0.3,想当然的认为是由于坩埚的影响导致了结果偏高。实际情况是化学值结果也是0.9。那这个问题是怎么产生的呢?这也许只能归结到试样本身(不一定是由于镍的原因,毕竟镍的含量也不高)。同时,这样的一些试样,表现为在熔融时,熔融液表面覆盖着一层不溶物,猜想为炉渣类物质。但一直没有定性,也谈不上定量了。为什么一些有,一些没有,那是和试样本身有关了。也与空气的排出有关。
最后,把P也说一下。P的结果一直比较稳定,准确度也高。没有问题。
注:虽然空白(也就是纯铁助熔剂)中的P一般都是0.005%左右,不排除有更低的,只是相对来说,成本也更gao。这里只要求不影响分析结果就ok了。硅分析的问题,容易受纯铁好坏的影响。
关于微碳、中碳铬铁的测定。做过这方面的试验,
一、将微碳标样熔融,做入曲线中,但不能成线性。可能是由于碳的影响。与此相同的是,宝钢的实验也只是就高碳铬铁而言,而且,其Cr标准曲线范围明显要小于我们目前的试样中Cr的范围。
注:后期见过一篇会议论文,是将三类铬铁分别制作工作曲线进行分析测定。
将高铬标准样品(钢样)以相同条件熔融后测定,结果不能满意。
二、试图将C作为输入含量进行校正,校正的结果基本没有改变,不适用。
可见,对于微碳、中碳铬铁的测定,还是需要相同种类的样品做标准曲线,然后分析。
注:这是错误的说法,实际上碳的校正非常有用。而且现在很多XRF能够测量C元素,在这个类型的样品中也可分析C、S含量,(S含量偏低较普遍)。采用分析的碳进行校正,可以测定微铬和中铬。
现在,对一些制样上需要注意的方面总结如下:
1、 对新砂轮片的使用要谨慎。
2、 熔融出现时间、状态上的异常,时刻关注。
3、 防止试样表面污染。
4、助熔剂的纯度。
总的来说,离心浇铸熔融这种方式是一种非常环保的分析方法,是冶金行业中铁合金和钢铁分析的一种有效制样手段,现在也越来越受到大家的重视。
参考文献-离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中铬、硅、磷
shaweinan
第4楼2009/08/22
既然是“所注明的陶瓷坩埚,当然也包括了铝质的坩埚,可能也有其它材质的坩埚。”那还要对坩埚的材质进行什么样的说明?“没有采用目前的这种坩埚”中目前的这种坩埚又是什么坩埚?
很多的实验都有环境变化的问题,因为这种变化是没有什么规律可遵循的,所以很难通过人为的主观意识来控制,同样也就不容易通过时间来进行人为地调整。时间对分析C、S有较大影响这也不难理解,你的试验不是在真空条件下做的吧,因为空气中存在C和S的氧化物气体,所以会产生比较大的影响。
shaweinan
第5楼2009/08/22
在第一点中,“不能准确称量”应该是指不能准确称取到某一事先希望的数值吧?在第二点中说“Si是最不稳定的元素”,如果容器是用坩埚那显然Si的数据不会好,特别是在没有对坩埚内表面进行任何处理的情况下。
shaweinan
第6楼2009/08/22
用的功率越大是不是温度就会越高,如果温度越高那用坩埚作容器自然是Si的影响就越大了。
既然熔融通用镍可以在坩埚内表面形成了一层保护膜,那你为什么不去常识一下铬铁呢?如果不是一层膜,而是高温灼烧的结果,那你为什么不先将坩埚在高温下灼烧一下呢?
shaweinan
第7楼2009/08/22
“2条线的Cr值相差大约为0.6”,这个数值的单位是什么?2条线的Cr值分别是多少?“将2条线分别测量,然后平均”“选择最粗的表面和最细的表面,而两者的差值相差可能达到2%”那你的x荧光分析的精密度是多少?
shaweinan
第8楼2009/08/22
这样的分析结果明显是存在系统误差,应找明原因。你在注释中说“和标准值有关”莫非说标准值有问题?你接着还说“与工作曲线的低端绘制有关”,难道是分析校正曲线低浓度部分偏离了线性向上弯曲了?你的分析校正曲线拟合的相关系数是多少?