扫描电镜(SEM/EDS)
huangtao0307
第1楼2009/12/15
是不是要測樣品表面的粗糙度啊﹖可以通過切片的方式先制樣的.
csu_longjia
第2楼2009/12/15
不是看表面粗糙度,样品是圆棒,我要看它侧面上的缺陷。
fengyonghe
第3楼2009/12/15
两个问题综合起来说:先在显微镜下找到缺陷用碳素笔圈好,放入电镜后由低倍到高倍用选区扫描寻找目标物。这类试样一般要在比较高的倍率下才有更好的对比度。由于是曲面,视场不可能全部聚焦清楚。
sysmith
第4楼2009/12/15
应该没问题,缺陷尺寸相对于曲面来说不至于影响观察。
驰奔
第5楼2009/12/15
这个球球表面算不算曲面?不是看的挺清楚的吗。
dongjia1982
第6楼2009/12/15
好例子,lz说得的事情都不是很难实现的,曲率的问题一般电镜都可以解决,抛光样品需要从低倍开始找一个目标点,然后聚焦清楚后放大,重复,最后完成拍图就可以了。
第7楼2009/12/15
上面说的曲面是宏观的工件,你这个小球的直径只有7.14μm,应该是清楚的。也是扫描电镜的景深可以满足的。否则断口还怎么看。工件表面能否同时聚焦清楚还与工件直径有很大关系。该工件是圆棒,缺陷的分布一般是纵向的,不会影响缺陷的聚焦。少数情况也有横向分布的缺陷。
syning90
第8楼2009/12/17
由于SEM有景深的问题,所以曲面不可能完全聚焦清楚,最好先低倍找到缺陷(低倍时景深也较大)然后在放大观察,注意不平整的东西不要碰到极靴下的探头!样品抛光了,一样可以进行观察,只要导电性良好
毒菇九剑
第9楼2009/12/17
如果看二次电子像,太平了才难拍呢。景深大是SEM的一大优势。
firesoul119
第10楼2009/12/17
个人建议如下: 1 可以用光学显微镜先检查目标点,因为光学的最大放大倍率是2000,应该也可以检查出异常区域了; 2 虽然SEM景深大 且可旋转和倾斜,但为了最佳的观察效果,还是将要观察的区域放在最上端便于观察. 3 由于SEM与光学显微镜原理不同,样品面在光学镜下反光而光亮(有时觉得反而看不清楚),但在SEM下,抛光的光滑 图象会更清楚,否则在高倍下划痕非常明显,如果划痕的宽度大于要观察的异常区域细节,那就会影响我们的观察了... 以上,希望对你有帮助!
品牌合作伙伴
执行举报