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引线导致背景计数异常一例

大陆

2015/09/25

X射线衍射仪（XRD）

实验室的布鲁克Bruker D8 discovery XRD设备上周学生报告背景异常，小角掠射测膜厚没有问题，但超薄样品的衍射峰淹没在背景中，更无法扫倒易图。接到异常报告，放上标准样品，如图1所示，进行测量，将结果与之前的正常结果比较，相同测量条件下，差别很大，背景计数与波动提高了一个数量级，而且在多处产生异常峰，如图2所示。请布鲁克工程师过来查看，原来是探测器的连线有松动，如图3重新固定连接引线后恢复正常。

图1 换上标准托盘和(100)单晶硅片

图2 标准样品扫角结果与正常谱图对照
图3 探测器引线重新固定

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iangie

第1楼2015/10/27

应助达人

其实吧，闪烁计数器已经逐渐退出历史舞台了，可以考虑换成LynxEye系列的探测器。goniometer还可以再战好几年~

0

大陆

第2楼2015/11/12

lynxeye的探测器材料不是闪烁晶体吗？
iangie(iangie) 发表:其实吧，闪烁计数器已经逐渐退出历史舞台了，可以考虑换成LynxEye系列的探测器。goniometer还可以再战好几年~

0

iangie

第3楼2015/11/12

应助达人

不是，固态探测器是硅基电路用的是光电效应
大陆(handsomeland) 发表: lynxeye的探测器材料不是闪烁晶体吗？

0

dooby

第4楼2015/11/27

感谢分享好资料

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