超声波自清洗样品窗

book2015

2015/10/29

私聊

颗粒度测量

微纳独家技术---超声波自清洗样品窗
开发背景

在湿法粒度仪中，样品窗是最重要的部件之一，分散好的颗粒样品必须通过样品窗的同时才会被激光束照射到，从而产生正确的能谱分布数据。因此样品窗的清洁度是颗粒测试效果的重要保证。
在以往的仪器中，样品窗每隔一至两周就必须拆卸下来清洗，去除附着在上面的颗粒残留，非常麻烦，而且有的样品自身带有粘性或者静电的，甚至在测试过程中就会粘连到样品窗上，严重影响测试结果。
因此，济南微纳科技有限公司设计出一款可以进行自清洗的样品窗，并申请了国家发明专利，彻底解决了以上问题，大大减少了样品窗的清洗频次，增加了样品窗寿命，有的甚至可以终生不必拆洗。
样品窗清洗前后的图片示例

技术简介
本样品窗采用了超声波空化原理，（如下图）以高频振动通过微型空化池的传导，进入样品窗腔体内，使颗粒无法与样品窗内壁粘连，

本设备可以配套在济南微纳生产的湿法激光粒度仪、湿法动态颗粒图像仪设备中，开启过程完全不影响测试。配套软件中，设定有三种模式，针对颗粒性质可以选择不同的模式，以达到最佳效果：
l 清洗模式：用于一般性的颗粒，只在测试完成后开启，将本次测试中样品窗上粘连的颗粒完全清洗掉，并且随着排水系统排出。
l 边测试边清洗模式：用于容易粘连的颗粒，测试的同时持续开启自清洗模式，可以边测试边清洗，采用这个模式一方面能够防止测试过程中颗粒粘连到样品窗影响光路从而造成数据不准确，另一方面，也可以使样品窗一直保持清洁状态，颗粒没有机会在样品窗上驻留，大大减少样品窗拆卸换洗频次
l 预设模式：专业客户可以根据自己的具体测试流程自己预设清洗时段、持续时间等参数，或者也可以由微纳技术人员为您定制最合适的使用方案。
如需更加详细的了解此技术的工作效果，请与我们联系索取视频资料。
专利声明
本设计为济南微纳研发，并申请了国家发明专利，未经济南微纳颗粒仪器有限公司的许可，擅自仿造此部件，或制作具有类似结构部件者。微纳均有权追求其法律责任，要求侵权方进行赔偿并回收涉嫌侵权的产品。