AFM高度图离线处理基本操作

当我们进行完原子力显微镜测试，拿到AFM的原始数据后，接下来就应该进行数据分析了，那么应该怎样处理数据呢？下面我来介绍一下AFM高度图的一些最基本的操作。

首先，双击打开数据处理软件：

然后“open”，选择之前保存的初始数据，打开相应的图像文件。

接下来，点击“Flatten”按钮，选择相应的flattenorder。

注意，0th到3rd的代表的意思分别如下：

0th是将z的中心调整到0附近，去除扫描管在z方向的漂移。

1st是校正样品与探针之间的倾斜角度。

2nd是纠正扫描管在扫描过程中造成的大范围的曲面现象。

3rd:在离线数据处理中一般不用，因为3阶flatten可能会造成图像假象现象。

高阶的flatten是包含低阶flatten的，我们在处理数据时一般选择2nd。

当图像上出现比较突出的地方造成阴影、或者遇到较大凹陷出现时，我们还需要MASK一下，也就是按住鼠标拖拽圈住相应的凸起或凹陷，然后将flatten order设置为1st，执行命令就可以了，这样操作的目的主要是为了避免非基线位置对实际基线的确定。

最后，点击图像导出按钮，选择好图片的导出格式，再点击“Export”，将图片保存到相应的文件夹即可。

以上是原子力显微镜数据处理的最基本的操作，此外，还可以根据需要调整z方向的范围、进行3D图像的分析、截面（section）分析、高度（depth）统计、粗糙度（roughness）计算等。