玉米馒头
第3楼2020/03/30
问题写的很详细
a. 漂移校正样品的制样方式可以和工作曲线中不一致,比如在帕纳科的Omnian无标定量程序中标准序列包括熔片与粉末压片,而漂移校正样品则选择的是PC3(熔片),漂移校正样品确实需要保持相对稳定,因为它反映的是仪器工作状态,但漂移校正样品是可以重新制备的,P.S. 重新制备漂移校正样品对制样方法的重现性要求高;
b. 一般定量方法需要保持一致(无标定量程序则不需要),对于某些待测元素较多的方法甚至需要多件漂移校正样品,因为漂移校正样品中待测元素需要一定浓度,浓度太低重现性差,可能导致过度校正;
c. 可以,但待测元素不一定匹配,你可能需要多件漂移校正样品。
如果选择熔片作为漂移校正样品,那最好每次取用的时候戴手套,先装于纸袋中再放入自封袋,最后保证干燥器达标。
michellin
第4楼2020/03/30
回答的很详细,非常感谢,对于C,漂移校准片的元素浓度是否应该在标准曲线的范围内呢,比如测Cu,漂移校准片的含量如果是30%,而我的标曲最大浓度是20%