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如何求Plane Trace

透射电镜(TEM)

  • 问题源于Hirsch编写的Electron mircoscopy of thin crystals中用Twin plane trace 的方法求特定的衍射花样。我求解的结论和书上的结论不太吻合,应该是在求解Twin Plane Trace那出了问题。求助各位达人,我求解的方法错在了哪里呢?
  • }

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  • m3033883

    第1楼2021/09/17

    应助达人

    我想是这样:由晶带轴得到底片的面指数。再由底片面指数与孪晶面指数得到交线的正空间晶向指数。再求这个方向的法面指数。它就是衍射花样的倒易矢量方向。也叫trace。

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  • imrszl

    第2楼2021/09/17

    应该是对的 对本例来说,假设是立方结构,trace plane的normal是1-1-1,和图6.21上的那条线的方向很接近,如果是四方结构,方向稍微偏一点应该就是那条线的方向了,和极图给出的结论也很接近。
    但是这种trace在衍射谱上真的能看见吗?p146 It is useful to note that when well-defined twin lamellae occur,so that a trace of the twin plane is visible on the electron micrograph,these parallel lines of twin spots are perpendicular to the twin plane trace,if lens rotation effects are properly allowed for.
    我之前还以为是由于尺寸效应孪晶面产生的streak在13-2上的投影是trace。

    m3033883(m3033883) 发表:我想是这样:由晶带轴得到底片的面指数。再由底片面指数与孪晶面指数得到交线的正空间晶向指数。再求这个方向的法面指数。它就是衍射花样的倒易矢量方向。也叫trace。

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  • imrszl

    第3楼2021/09/17

    哦哦 突然明白了,应该是正空间的图像和倒空间的图像对应起来(rotation effects are allowed for),然后在倒空间画出trace 的垂线就是trace plane的投影。

    m3033883(m3033883) 发表:我想是这样:由晶带轴得到底片的面指数。再由底片面指数与孪晶面指数得到交线的正空间晶向指数。再求这个方向的法面指数。它就是衍射花样的倒易矢量方向。也叫trace。

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