紫外分光光度计噪声较大的解决方案

更换比色皿；更换空白液

比色皿表面或内壁被污染，也会影响数据

学习了，感谢分享！

是的，实验完毕一定要及时清理干净

感谢支持！

应助达人

紫外区噪声大的另一个重要原因是氘灯能量下降，尤其是采用半导体硅光二极管作为检测器的的中低档的仪器上尤为明显。

这是因为：半导体二极管检测器的灵敏度特性在紫外区极低；这就是该检测器的一个短板。关于该类型检测器的灵敏度特性曲线见下图所示：



从上图可以看出：该类型检测器的灵敏度在紫外区极低，也就是信噪比最差的区域；400nm以下区域的灵敏度均很低，280nm处是最低点；而850nm是灵敏度最高点。所以此类检测器的动态范围不是很宽的。但是此类检测器的优点是：价格便宜且不怕室内光引起的“曝光”。

而光电倍增管检测器的灵敏度特性曲线见下图：



从上图可以看出光电倍增管的灵敏度在紫外区是比较高的，400nm处是一个最高点；但是其后在800nm处却成了一个衰减的拐点，所以要想检测大于1100nm以上的波长的样品，只能使用硫化铅(PbS)检测器了。但是作为紫外——可见分光光度计，大部分样品的检测波长范围均在800nm以下居多，偶尤其是紫外区居多。为此，一般高档仪器的检测器均使用光电倍增管的初衷亦在于此。但是由于该检测器灵敏度较高，因此很怕被直接曝光而造成灵敏度的下降。为了防止曝光故在样品室的入光口均设置了光闸；只有当样品室的盖子合上以后，光闸才能被开启。

非常感谢老师图文并茂的补充！

夕阳(anping) 发表:紫外区噪声大的另一个重要原因是氘灯能量下降，尤其是采用半导体硅光二极管作为检测器的的中低档的仪器上尤为明显。

这是因为：半导体二极管检测器的灵敏度特性在紫外区极低；这就是该检测器的一个短板。关于该类型检测器的灵敏度特性曲线见下图所示：



从上图可以看出：该类型检测器的灵敏度在紫外区极低，也就是信噪比最差的区域；280nm处世最低波长点；而900nm是灵敏度最高点。所以此类检测器的动态范围不是很宽的。但是其检测器的价格便宜且不怕室内光引起的“曝光”。

而光电倍增管检测器的灵敏度特性曲线见下图：



从上图可以看出光电倍增管的灵敏度在紫外区是比较高的，400nm处是一个最高点；但是其后在800nm处却成了一个衰减的拐点，所以要想检测大于1100nm以上的波长的样品，只能使用硫化铅检测器了。但是作为紫外——可见分光光度计，大部分样品的检测波长范围均在900nm以下居多，偶尤其是紫外区居多。为此，一般高档仪器的检测器均使用光电倍增管的初衷亦在于此。但是由于该检测器灵敏度较高，因此很怕被直接曝光而造成灵敏度的下降。为了防止曝光故在样品室的入光口均设置了光闸；只有当样品是的盖子合上以后，光闸才能被开启。

应助达人

不用客气！此外紫外区噪声大还有一个常见的故障，那就是光路中的带通滤光器（片）表面受潮或受到腐蚀，从而造成透过率下降所致，见下图：


从上图可以看出，紫色和蓝色的带通光片是负责400nm以下光谱通过的。如果这两片滤光片表面受潮便可以引起透过率下降，从而造成信噪比下降，于是噪声便随之加大。解决办法：需要用专用研磨膏打磨抛光。

北京来亨(SH100675) 发表: 非常感谢老师图文并茂的补充！

回头我把这两几个整理到一起，太全面了

夕阳(anping) 发表: 不用客气！此外紫外区噪声大还有一个常见的故障，那就是光路中的带通滤光器（片）表面受潮或受到腐蚀，从而造成通过率下降所致，见下图：


从上图可以看出，紫色和蓝色的带通光片是负责400nm以下光谱通过的。如果这两片滤光片表面受潮便可以引起通过率下降，从而造成信噪比下降，于是噪声便随之加大。解决办法：需要用专用研磨膏打磨抛光。