Ins_5eac7ffe
第2楼2023/03/11
感谢!我们通常认为用传统xrd定量铁基位错密度不够可靠。这其中主要的因素是因为Cu靶的高荧光背景?K beta, 抑或是K alpha的因素呢?如果采用全谱拟合的手段,是否能够避免这些因素对位错密度(峰宽化)的影响了呢?感谢!
丘狐
第10楼2023/04/03
目前对铜靶弯晶单色器一般用石墨制备,取向面与普通石墨烯取向面一致,滤光后剩余25%-35%,使用滤波片的话,绿光后剩余50%-60%;
另外使用单色器只能过滤连续波长的X射线包含Kβ,无法将Ka2滤除,除非使用多次过滤,这样的多次过滤一般用于高分辨光路,最终保留10%左右的原始光强;
一般衍射仪经单色器过滤后,保留下来的是Ka1与Ka2的混合光,也就是常说的Ka;
在常规分析中,Ka2是需要去除的,即便选择结构精修,也只是采用另外的方式将Ka2的影响避免,特征峰宽化时最佳的方式自然是全谱拟合法对峰形分离,如果不想采用全谱拟合法,可以考虑用其他峰,只是需要小技巧来处理下不难