XRF荧光光谱仪的检出限问题

应助达人

1、荧光光谱仪的仪器检出限是一个公式计算出来的吗？是的；是否不同的元素对应一个不同的检出限？是的；是否不同的基材也会对应一个不同的仪器检出限？不是
2、在不需要前处理的情况下，荧光光谱仪的方法检出限等于仪器检出限？并不一定；以一个塑料为例，一块厚度和大小都足够的塑料的仪器检出限等于方法检出限吗？还是说塑料中某些元素的仪器检出限等于方法检出限？楼主，仪器检出限和方法检出限是两个概念，方法检出限有样品，但两者可能相同
3、不同的基材的物品，同一种元素同一种方法是有不同的方法检出限吗？
有可能，但同一方法同一元素一般是一样的
还是说不同基材的物品本来就不能用同一种方法？
不一定，同一类的应该可以用

应助达人

这几天正好看了篇文献，可以参考下。

感谢大神回复，我想请问一下，什么特定的情况下仪器检出限和方法检出限是一样的吗？我第1个问题的第二问打漏字了，我想问的是不同元素是不是对应不同的仪器检出限，我少打了仪器，麻烦大神再回复一下，谢谢。

感谢大神，我好好看一下，真的万分感谢。

应助达人

楼主看一下仪器检出限和方法检出限的定义，如上图引自《GB/T 27417-2017 合格评定 化学分析方法确认和验证指南》，可以看出仪器检出限其实和用的方法无关，但方法检出限就得依据特定方法来做，而且有实际样品，但两者有可能是相等的。

我想问的是不同元素是不是对应不同的仪器检出限。是的