半导体参数分析仪（FS-Pro 半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导 体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压 (IV) 测试、电容电压 (CV) 测试、脉冲式 IV 测试、任意线性波形发 生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。几乎所 有半导体器件的低频特性表征都可以在 FS-Pro 测试系统中完 成。

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