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HITACHI FT110A XRF萤光镀层厚度测量仪历史与仪器介绍

X射线荧光光谱仪（XRF）

  • 日立（HITACHI）是一家历史悠久的全球领先科技公司，其FT110A XRF萤光镀层厚度测量仪代表了该公司在X射线荧光技术领域的最新成就。该仪器专为测量各种材料表面的镀层厚度而设计，尤其适用于五金件、印刷电路板、半导体材料和特种金属等领域。FT110A凭借其高精度和无损检测能力，在业界享有盛誉。
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