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HITACHI FT110A XRF萤光镀层厚度测量仪优缺点

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 优点:FT110A提供高精度的镀层厚度测量,无损检测方式保证了样品的完整性;操作简单,自动化程度高,适合生产线上的快速检测。
    缺点:对于非常薄的镀层,测量的难度可能会增加,且仪器价格较高,对于预算有限的小型企业可能是个挑战。
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