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Spot View/Spot View-FL亚微米级表面检测系统数据处理

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2024/05/20

红外光谱（IR）

Spot View/Spot View-FL系统的数据处理能力强大，能够自动分析大量图像数据，快速识别和分类表面缺陷。用户可以自定义检测参数，如颗粒大小和形状，以适应不同的检测需求。系统还支持数据统计和趋势分析，帮助用户追踪生产过程中的质量问题，优化工艺参数。

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