我也当心低含量的测定，空白也高了些，不知有何解决办法。另外不知如何进行数据分析。多谢

谢谢。因为不得而解，故原始记录难找。但强度还记有两次结果：
SI Fe Na
第一次 0.042 2.401 0.195
第二次 0.041 2.386 0.201

从理论上讲，你说的现象是不可能的！！但是样品含量比较低，荧光实际是测不太好的

你好
氧化铝我没做过，只能从理论上回复你的问题，不知能否对你有所帮助？
因为氧化铝本身是属于轻基体样品，散射背景就比较高，在熔样时，你加入的溶剂量越大，所得到散射背景就越高（因为散射背景随基体的平均原子量的减小而增大），元素的特征峰是叠加在背景上的，而且在你的样品中Si、Fe只有50ppm，Na只有3500ppm，对荧光来说也应该算是低的，况且Na、Si离基体元素都是比较近的，影响也比较大（从这个角度讲，对铁影响是比较小的），所以从表面看，稀释比越大（熔剂越多），总强度显的越大。我认为净强度还是应该下降的。
我建议：熔样时，只要样品的流动性足够好，就不要追求较大的稀释比，而且可能的话给Al的通道加衰减器，这样可能会好一些；如果还有问题，试一下标准加入法，熔样时定量加入Na、Si，这样可能计算稍微麻烦一点，称样时要求更准确，但灵敏度会提高一些。
还有，你可以试试压片法，因为氧化铝是“熟料”，矿物效应很小，但可以提高微量元素的强度。
但愿对你能有所帮助。