共工
第59楼2008/01/11
这里再详细说一下我的对比,OXFORD XACT PREMIUM VS。BRUKER XFLASH 4010。
OXFORD的XACT 探头,有一般的和高级的,叫PREMIUM, 一般的分辨率135EV,高级的133EV,晶片质量不同,我用的是PREMIUM。
我感觉XACT在处理高计数时不是很 COMPETENT,计数高到一定程度是INCA软件会提示系统将会转移至延伸模式,EXTENSION MODE,系统需要重新校准,恐怕这不是每个用户都可以轻易接受的。
XFLASH就根本没有这个问题。
还是高计数时,XACT在延伸模式下,和峰的处理难以恭维,比较低计数时高出很多,非常明显。
后来将这个问题反映给OXFORD英国本部,销售总监亲自回复,我收到了一个INCA的补丁文件,声称可以解决和峰问题,可能由于是邮件的缘故,这个补丁文件在安装时出现问题。
这里需要指出的是,用软件处理和峰好像不是好建议,个人认为和峰处理能力是百分百硬件问题,是晶体处理高计数的能力和脉冲检测器处理脉冲能力的问题。
XFLASH就没有这个问题,可以说在高过100KCPS时我也没看见和峰。
个人发现,我这里很快会有APOLLO10,届时再比较。
duziqiliang
第62楼2008/01/12
不知道德国工兵有没有看到我发的这个帖子,只要是能谱,随便测一下给一个结果就可以了吗?既然你们几个厂家都不服气,大家认认真真按照我的要求做个样好吗?
德国工兵
第63楼2008/01/12
回DUZIQILIANG
抱歉,之前的确没有注意到您提出的要求,收到快递过来的样品之后,我和样品提供者确认了一下测试要求,样品提供者表示要求定量结果出归一化,非归一化,以及氧化物含量的结果,要求用SDD能谱探测器测定。没有其他要求。由于收到的样品比较少,且是粉末状的,制样比较困难,因此本人直接把粉末倒在导电胶上,定量出了结果。
我的确没有精心准备这次测试,我只是用用户当时设定的条件测了样,出了结果,从制样到出结果整个过程花了15分钟,抱歉!
1
最好水平不敢说,但是结果绝对是本人用布鲁克SDD能谱所测,没有造假
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不知道您说谁家的分辨率可以用软件过滤,引用EDAX同行的话:这么机密的事情你都知道?不妨您拿出证据出来,让大家也知道一下到底是哪家能谱厂商那么无耻造假?
三家厂商的态度其实一目了然,布鲁克从来都是光明磊落,我第一个响应了版主的测试要求,第一个发出了测试报告,从来没有躲躲闪闪,找枪手或者换马甲。多大的事啊,至于吗?正大光明的上来不就完事了吗?这么躲着藏着累不累啊?
另外不知道谁告诉过你分辨率决定定量结果的?
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实在不明白您要求的1000cps和2000cps有什么区别
10000cps和20000又有什么区别
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版主提供的是成分未知的,我第一个公布测试结果,至少我没有造假,至于别人抄袭我到没有担心,我相信同行的道德水平!
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我直接截屏,这样是最真实的结果,不可能造假
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我们有60,40,30,10平方毫米的探测器,我用的是4010也就是10平方毫米的探测器来测定的