To：OXFORDWEN:
非常抱歉，你说的.ipj后缀的文件是OXFORD专用的文件，我没有软件打开，抱歉不能帮你的忙！还是请帮你们做样品的人贴上去吧！

感谢牛津公司的毒菇九剑贴出了牛津公司的结果，请大家去测试结果贴上去看。我仔细看了看牛津公司的结果，按照我当时的要求给出了不同计数率的定量分析结果，不同计数率的结果非常稳定，不愧为是第六代SDD技术。对比Bruker的结果，我想中国的用户能有自己客观的评价吧。另外，EDAX的结果呢？为什么不象牛津和Bruker一样勇敢的面对挑战呢？

本来想该铁到此结束的，没想到DUZIQILIANG非得挑起争论，既然duziqiliang这样那就说个明白吧：
牛津的结果和布鲁克相差不是一点点：
举例如下:
1.布鲁克给出了归一化和非归一化的结果，牛津没有
2.布鲁克应版主要求在20KV和10KV不同的加速电压条件下出了结果，牛津没有
3.死时间：明眼人可以看出，牛津的ADD能谱的死时间不是一般的大。20000输入计数的时候已经61％的死时间了。布鲁克的40000输入计数的时候才20％。
4.不得不提分辨率了：牛津的谱图和布鲁克的比较，分辨率差了很多，这个一眼就能看出的，我就不用强调了。

五个注册会员四个是厂商，真的很无聊！
布鲁克一个
牛津两个
EDAX一个
可以开一桌打牌了

。。。有的时候觉得我们的论坛是非常吸引人的，可以引得这么多牛人们汇聚在这里，大家在这里发言讨论也体现出对我们论坛的重视；但是另一方面，我们也不希望论坛整日硝烟四起，论坛是一个平台，既可以是用户们交流经验和资料的地方，也可以是宣传品牌的场所，但是无论怎样请不要出现人身攻击，和谐社会吗，毕竟这样下去我们会很难办，删贴封号的情况谁也不希望发生，希望大家止于理。谢谢

tao______ 发表:五个注册会员四个是厂商，真的很无聊！
布鲁克一个
牛津两个
EDAX一个
可以开一桌打牌了

看大家都竞争好激烈,其实探头的分辨率125和140,能有多大的区别,对于测试来说,基本上是一样,因为到分辨率到达150以下后,可以说绝大部分元素已经能分开满足测试要求了，而那些靠得很近的,就算用125的分辨率也分不开,我接触过美国AMPTEK和德国PNsensor两个种SDD的探头，PNsensorSDD的探头是可以到130以下的,美国AMPTEK的只能到145,但是PNsensorSDD用的是一级制冷,对环境要求很高,而美国AMPTEK的是二级制冷,探头很稳定,对环境要求没那么高.关键看你怎么选择了.一般探头供应商给的指标都是实验室指标,真正上了仪器一般都会差一些.当然也有一样的，比如AMPTEK的SDD,在仪器上一样也是145左右.另外探头的分辨率还和信号的成形时间是有关系的，而成形时间直接影响了有效记数,也就是大家所说的死时间.所以只能是调到一个探头的最佳状态,而不能所有的都能兼得的.

zbb1982兄，你研究的可真是很深入了。国内没几个人能明白信号成形时间、死时间以及有效计数的关系这个事情。有效计数才是真正形成结果的计数。死时间太大的话，有效计数降低，采集再多的信号也是在枉然。
另外，关于分辨率想和您探讨一下。让我先猜一下，您是做XRF的？所以您不太关心分辨率，因为XRF优秀的峰背比使得分辨率不再那么重要。但是在电镜上面，面临着一个韧致辐射的问题，使得电镜的Ｘ射线信号峰背比不够好。这时优秀的分辨率就比较重要了，另外，Ｘ射线低能端的谱峰重叠更严重，好的分辨率这时候的优势更明显。

另外，对于制冷的问题，也想和您讨论一下。我看到的文章的意思是SDD的理想状况是在室温下直接使用。这就需要探头的热噪声相当的低，但是目前的芯片制作工艺还达不到这个水平，如果是室温直接工作，最好的分辨率只能到150eV左右。这就需要用一个低温源去抑制热噪声。从另一个方面来讲，探头几级制冷可能不是关键问题所在，关键是探头的制冷温度以及此时能达到的分辨率。比如都达到140eV的分辨率，如果一个探头只需制冷到零下10摄氏度，而另一个探头需制冷到零下20摄氏度，那前一个探头的芯片绝对要比后一个好，因为从结果就可以知道它的热噪声更低，芯片质量更好。