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  • hewanjin

    第91楼2008/09/10

    学习一下！！顶

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  • qmj9876

    第93楼2008/09/15

    使用ICP-OES测试玩具所用的标液具体是怎么 配置的？怎么处理Sb的介质跟其他单标介质不同的问题？

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  • pengwenqi

    第95楼2008/09/17

    都是一些常识.有苦劳

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  • hb-hd-wy

    第96楼2008/09/22

    感觉这位是个行家，学习学习。

    wccd 发表:1,氩气微漏管道内混入空气, 处理--检查泄露,检查压力,排除混合气.
    2,高压点火线圈几放电间歇受潮, 处理--加强除湿,加长仪器预热时间.
    3,机内硬件系统参数发生变化, 处理--(1)运行硬件自检诊断程序,判断硬件参数是否正确,(2)运行硬件初始化数次,(3)如果有条件可进行硬件自校调整,如果无条件由厂家技术员完成.
    4,RF发生器匹配不佳(发射功率偏小发射功率偏大)或受潮预热不足, 处理--经常定时给仪器通电预热,烘潮气,经常观测RF发生器发射功率是否正常.
    5,操作软件系统联机通讯参数初始化未完成, 处理--检查计算机联机通讯是否可靠,软件运行是否受到干扰,程序是否染毒,参数选择是否正常等等.
    6,某些特定的传感器检测到系统异常,系统进入保护状态. 处理--侧重检查水,电,气各项指标是否正常,环境温度,湿度,水压,气压,电压,仪器内部的电磁阀,限压阀,限流阀,压力检测表,流量计，门限保护开关，继电器触点，仪器接地可靠性等．．．．．．都是影响仪器正常工作而不可忽视的因数．

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  • hb-hd-wy

    第97楼2008/09/22

    不好意思，本人对此了解较少，请问基线漂移指的是什么，是指的元素的分析谱线么？学习学习。

    wccd 发表:影响仪器漂移因数较多，归根结底主要是基线漂移导致测试参数发生漂移．
    １．电气参数的漂移主要是电子元件受温度影响，电子元件的老化，电源的干扰，电压，电流，传感器，仪器接地（地阻）的可靠性等．
    ２．光学系统的漂移，光路，光电（倍增）管，ＣＣＤ，光栅狭逢，分光系统等．
    ３．机械系统的漂移，真空度，光路的机械装置，气路管道及压力，炬管雾化等．
    ４．软件系统受干扰误判参数，程序染等．

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  • fqlp0606

    第98楼2008/09/24

    太谢谢了，我正找ICP-oes的资料，学习了！！

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  • david_051

    第99楼2008/09/24

    今天刚刚做了ICP－AES实验，楼主讲的很有用哦，谢谢了。

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