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  • 第12楼2005/01/29

    你最后的结果不就是谱图给出的吗/
    哟什么问题吗?

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  • 第13楼2005/01/29

    我对用校正因子不是很懂
    能不能说说具体怎么做？

    tzl75 发表:0.50PPMAg的两个谱图是在同一波长，不同级次下同时测定出来的，第一个是1级，峰搜索范围为0.08nm第二个是2级的，峰搜索范围为0.04nm,从发射强度看2的发射强度有所降低，同时背景强度增大了1倍多，也有其他谱线的干扰，再看看SBR，别小瞧这个东西，SBR在分析中很重要的，假如再分析中遇到要测定低含量的元素，而其谱图有点和2一样，或者比2的光谱重叠更厉害，那就要考虑采用IEC了，用校正因子来解决这个问题。

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  • 第14楼2005/01/29

    其实就是干扰系数，干扰因子，一般用他来描述干扰元素对被分析元素的干扰程度，当分析谱线与其他谱线存在干扰时，可通过干扰系数校正来进行测定，就象“W中Mo测定的哪个帖子”我发的谱图，当光谱出现那样的干扰时就可以采用他来分析，不过，现在的机子好多软件都设定好了，你直接进行测定，计算机回自动算出K的，好好看看你的说明书，话说回来，一般都很少用这个进行测定的，平时我们遇到光谱重叠干扰后，一般靠另选谱线来分析，

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  • 第15楼2005/01/30

    如果分析中出现这种情况大家会采取什么措施

    tzl75 发表:这个有说明了什么问题，

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  • 第16楼2005/01/30

    我暂时还没看到我的软件里有关于干扰因子的资料
    一般都可以通过另选谱线解决，但是分析高纯物质的时候最灵敏线都有点勉为其难，要是稍有点干扰实在是头痛！特别是分析AL、P等灵敏度不是很高的元素。要是分离基体的话，操作比较麻烦，工作量增大……

    tzl75 发表:其实就是干扰系数，干扰因子，一般用他来描述干扰元素对被分析元素的干扰程度，当分析谱线与其他谱线存在干扰时，可通过干扰系数校正来进行测定，就象“W中Mo测定的哪个帖子”我发的谱图，当光谱出现那样的干扰时就可以采用他来分析，不过，现在的机子好多软件都设定好了，你直接进行测定，计算机回自动算出K的，好好看看你的说明书，话说回来，一般都很少用这个进行测定的，平时我们遇到光谱重叠干扰后，一般靠另选谱线来分析，

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  • 第17楼2005/01/30

    你用的是哪个厂家的机子啊， 你看看软件上有没有IEC功能

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  • 第18楼2005/01/31

    PE
    請問有IEC的教學軟件嗎

    tzl75 发表:你用的是哪个厂家的机子啊， 你看看软件上有没有IEC功能

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  • 第19楼2005/01/31

    不好意思，我没有，我没有下载这个论坛上的教程，难道它不好吗？

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  • 第20楼2010/07/07

    我是小关，我什么都不知道，怎么办

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