Ilovenmr
第15楼2008/07/18
我想说的是,耦合裂分在低场下能够更好地观察到。
我也是经历过才知道的。当时附近某高校刚安装好500M时间不长,他们管仪器的老师找到我,说是有个样品在我们那里300M做过,其中一个峰的耦合可以看清楚的。他们500M装好后,那个学生拿到他那里做了一下,看不到耦合。结果学生说怎么500的还不如300的好,这引起了他的注意,刚好环球的金老师当时在,他说金老师花了很长时间匀场,最后可以看到一点裂分,不过明显不如300M的结果。(这个样品做300M的时候,测试的老师并不知道需要注意这个峰的裂分,只是作为日常测试,做了个梯度匀场)。这位老师找我想在我们的600M上试试,看看什么情况,因为他也怀疑他的仪器有问题,我先试了梯度匀场,根本没裂分,然后手动调了大约20分钟,基本看不出裂分。
对于不同基团的分辨在高场下更好,我前面举了例子。
sslin
第16楼2008/07/23
这句话或许是关键, 但有待推敲. 看如何定义耦合常数分辨率.
高场谱仪在分辩率上表现得比较好, 主要是它的半峰宽较窄 (由低场的三角峰变成高场的棍棒状峰), 因此发生重叠的机会较小.
对于某一化合物的信号峰, 其峰值的 "中心化学位移" 是固定的, 耦合常数也是固定的物理常数.
对于高场谱仪, 耦合常数为某 Hz 的裂分峰, 裂分间的化学位移的确变得比较窄. 因为 (谱仪兆数) x (裂分化学位移) = (固定耦合常数频率 Hz). 所以: 谱仪兆数增加, 裂分间的化学位移变小, 夸张的话可能太近产生重叠. 就看其半峰宽的窄度是否足够弥补(部分)重叠现象.
类似的例子如转速 20 Hz 出现旋转边带的情况, 在 200, 300, 400, 500, 600 兆谱仪出现的位置分别是正负 0.1, 0.066, 0.05, 0.04, 0.033 ppm, 距离相近了些. (公式范例: 200 兆 x 0.1 ppm = 20 Hz; 600 兆 x 0.033 ppm = 20 Hz)