zhangchenly
第14楼2010/04/13
在XRF中如果用压片法制样,X-射线的强度可以变化10%到20%,精度低的原因如下
粒度:由于粒度的大小不同,导致样品的非均匀性。颗粒大时,任何特定元素观察到的荧光很大程度取决于样品的第一层颗粒,并且强度取决于元素所在颗粒的组成,相反颗粒很小时,相同元素的强度有赖于样品的整个组成。
表面粗糙度:由于激发和荧光的发射是两个不同的方向,所以大颗粒可在一侧被激发而其荧光可以在探测器的方向完全吸收。如果样品是高压压制的,这种效应非常小,但是在松散中的粉中则加强。
优选取向:高压压制倾向于使颗粒表面与样品表面平行排列,从而增强了来自具有天然平面的颗粒的测量强度,降低了来自具有更不规则形状的颗粒强度
markon_yan
第17楼2010/09/06
楼主,你也可以再做标准曲线的时候用玻璃样品做飘移校准啊,以后每次都和他对比校验.感觉工程师他们说的也对啊,仪器估计不是主要的.还有我也是用的PANATICAL 的.