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  • 第11楼2005/07/13

    XRF无标样的的方法肯定可以做半定量的分析，如果用的好，定量分析也是没有问题的。一般可以买到无标样分析软件，估计会很贵的。

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  • 第12楼2005/11/22

    为什么一定要自己做呢？

    ahobo 发表:
    实验室自己搭建的系统，
    其功能包括对无机薄膜样品进行XRF（energy dispersive）分析，
    为了验证该功能，
    我制备了单一金属的厚度梯度薄膜，厚度从几百nm到几微米，
    然后测量了薄膜中不同区域的厚度和反射的荧光强度，
    当然，由于薄膜的吸收，荧光强度根膜厚并不成正比，

    我现在想从薄膜的成分（只有一种元素）和厚度计算出其荧光强度分布曲线，
    看是否如我实验的结果一致，
    请问，哪里能找到这样的参考文献？最好带公式的？

    另外请教：
    从XRF谱中用无标样的办法是不是也可以定量或者半定量地解出元素的含量呢？
    现在，有什么现成的算法或者软件么？？

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  • 第13楼2005/11/24

    你的问题实际上是两个。一个是镀层分析问题，是有公式的，它是利用康普顿散射线的衰减量来做的；二是无标样分析问题，它要考虑背景问题，也就是背景基本参数法才能准确。

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  • 第15楼2006/11/22

    测膜厚一般都是相对测量，信号的线形范围只能存在很小的范围，不知道你做的nm级的膜层致密程度如何。

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  • 第16楼2006/12/04

    无标样用扣背景方式得出的误差较大。

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  • 第17楼2008/04/23

    楼主不用FP法，肯定是没戏

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  • 第18楼2009/08/08

    有些厂家的仪器软件当中就有测薄膜的组件

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