死时间：计数测量系统处理一个脉冲信号后，恢复到能处理下一个脉冲信号所需的时间。以百分数表示。
您有两只手，一个时间内可以同时接到两个网球，要是同时有四个网球向您打来，那您就丢了两个，如果按丢了多少个球来算，当时您的死时间就是50%，要是按照接到了多少个来算的话，您的活时间也是50%。

活时间：脉冲测量电路能检测X射线光子的时间。以秒表示。
看了上面的解释，以上活时间的解释就是不正确的啦。

所以死时间和活时间是不能相加的。
那上面也就是不正确的啦。

时间常数：在一个充放电电路中电阻R和电容C的乘积叫做时间常数。在能谱测量系统中也有这样一个时间常数。
在测量中，时间常数要根据需要设置。小的时间常数计数率高，但分辨率低。适合于面扫描，线扫描，和含元素不多样品的定性分析（应避免产生重叠峰）。若要定量分析时间常数应设置的大一些(中等偏大），提高分辨率以减小分析误差。当对仪器进行较正时应选最大的时间常数。
同意。

死时间控制：在输入输出计数率曲线图上的拐点处死时间为64%，70%仍可分析，一般控制＜60%，但没有下限的限制。
注意较准时死时间控制在＜40%即可。
以上解释仅仅限于SILI晶体的。

多谢二楼的指教，长知识了！

1，死时间：计数测量系统处理一个脉冲信号后，恢复到能处理下一个脉冲信号所需的时间。以百分数表示。
2，活时间：脉冲测量电路能检测X射线光子的时间。以秒表示。
3，所以死时间和活时间是不能相加的。
以上三点确实如此，如果活时间也用百分数表示，那么，死时间＋活时间，永远等于1
死时间的第二个定义：
处理器无法测量其他脉冲时间的总和。以百分数表示。
死时间的总和由两部分组成：
1，    计数测量系统处理一个脉冲信号后，恢复到能处理下一个脉冲信号所需的时间。
2，    计数测量系统在处理前一个脉冲信号和恢复过程中，不可避免地丢掉X-光子，丢掉的X-光子由快道鉴别器计数；另外，两个相近的X-光子也由快道鉴别器计数，暂时不进行处理。防止出现和峰。当计数到256时，系统对256个计数进行处理，这就是死时间的第二部分。这就解释了为什么输入计数率越高，死时间越长。当输入计数率高到极限时，死时间达到100%，输出计数率为零。