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  • haikou95

    第21楼2009/01/05

    同意

    用XRF分析就可以，目前考古行业的对非破坏性样品就是用这个观察的。目前X射线的束斑最小大概是在10微米到几十微米，应该可以满足要求

    wildonkey 发表:用x射线荧光最合适，它不要求导电，而且精度高，低含量成分可到PPM级，非一般的sem上的EDS可比。已知广州和成都有，北京上海应该也有。
    把样品反过来，没镀膜面向上，即可消除镀膜的影响。

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  • haikou95

    第22楼2009/01/05

    补充一句，但要看轻元素可能不行，现在的XRF好像都是从Na开始的

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  • golf

    第23楼2009/01/06

    谁说的, 大功率的波长色散XRF从Be开始都可以的. 你说的是低功率的能量色散XRF.

    但XRF是做宏观的平均成份的, 和SEM微区分析是互补的, 不能相互替代.

    haikou95 发表:补充一句，但要看轻元素可能不行，现在的XRF好像都是从Na开始的

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  • haikou95

    第24楼2009/01/07

    拜托看清楚再说，是非破坏性测量

    golf 发表:谁说的, 大功率的波长色散XRF从Be开始都可以的. 你说的是低功率的能量色散XRF.

    但XRF是做宏观的平均成份的, 和SEM微区分析是互补的, 不能相互替代.

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  • blueskydw

    第25楼2009/01/08

    请问 大功率的波长色散XRF是不是要切片和抛光. 低功率的能量色散XRF则不需要，是非破坏测量 谢谢 诸位

    haikou95 发表:拜托看清楚再说，是非破坏性测量

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  • huangtao0307

    第26楼2009/01/09

    為什么要做切片呢﹖如果只是做表面成份分析可以直接做EDS的

    blueskydw 发表:
    EDX 不要切片抛光吗 一切片标本不就毁了
    还是直接在扫描电镜下成分呢
    请请求帮助

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  • haikou95

    第27楼2009/01/14

    是啊，用EDXRF，不用对样品表面处理，直接观察就好了。但就是元素范围是从Na开始，另外看不了微小的区域。现在EDXRF能放大的倍数大概是100倍左右，和电镜不能比。如果在北京，可以和几家大的博物馆联系一下，他们的设备应该能符合LZ的要求。

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  • blueskydw

    第28楼2009/01/14

    谢谢你了 我标本长500微米 直径30微米 能不能测呢

    haikou95 发表:是啊，用EDXRF，不用对样品表面处理，直接观察就好了。但就是元素范围是从Na开始，另外看不了微小的区域。现在EDXRF能放大的倍数大概是100倍左右，和电镜不能比。如果在北京，可以和几家大的博物馆联系一下，他们的设备应该能符合LZ的要求。

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  • 毒菇九剑

    第29楼2009/01/15

    这么小啊 用电镜看更好
    X荧光对样品的量要求比较大的.

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  • blueskydw

    第30楼2009/01/15

    我的样品已经喷金了 再做EDS 还行不
    影响大不大
    我的要求很简单 就是想知道 是不是主要成分为硅质
    急急急 现在找到EDS了 但有遇到此问题

    sshlxf 发表:这么小啊 用电镜看更
    X荧光对样品的量要求比较大的.

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