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  • 第22楼2005/06/27

    原来是科学院的大侠，欢迎指教！

    keter 发表:老大,厉害啊

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  • 第23楼2005/06/27

    SEANWEN朋友﹐這個有一個概念性錯誤。
    線掃是不可能用來看形貌的﹐因為粗糙表面激發出來的X射線能量﹐不是被遮擋﹐反射﹐就是被吸收和背散射。
    經驗老道的操作員會將樣本儘量打磨拋光﹐然後線掃。
    線掃是用來看成份對比的﹐這就是為什么我們用線掃調節亮度和對比度的原因。

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  • 第24楼2005/06/28

    多谢指教！！我也没有在看形貌，只是在讨论我做的线扫波动这么大的原因，因为产品的材料还是比较均匀的，做线扫波动这么大，我想了解原因，看来表面对结果的影响还是比较大哦！

    renxin 发表:SEANWEN朋友﹐這個有一個概念性錯誤。
    線掃是不可能用來看形貌的﹐因為粗糙表面激發出來的X射線能量﹐不是被遮擋﹐反射﹐就是被吸收和背散射。
    經驗老道的操作員會將樣本儘量打磨拋光﹐然後線掃。
    線掃是用來看成份對比的﹐這就是為什么我們用線掃調節亮度和對比度的原因。

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  • 第25楼2005/06/28

    我觉得如果样品均匀，需要做两个样品：一个做扫描图像看形貌，一个压片或者抛光做元素分析。

    SeanWen 发表:多谢指教！！我也没有在看形貌，只是在讨论我做的线扫波动这么大的原因，因为产品的材料还是比较均匀的，做线扫波动这么大，我想了解原因，看来表面对结果的影响还是比较大哦！

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  • 第27楼2005/06/29

    没什么牛人，大家交流得多，会有更多经验，会有更多你称为得牛人才是我们得目的啊

    wufu 发表:多谢牛人大哥们

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  • 第28楼2006/11/06

    各位大侠,请教如何做线扫描,荷兰Philips-FEI公司的Quanta 200环境扫描电镜,配的是EDAX或OXFORD公司能谱仪.

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