怪侠一点红
第12楼2009/06/12
依分辨率高低档次由低至高常用的探测器有NaI晶体闪烁计数器,充气(He, Ne, Ar, Kr, Xe等)正比计数管器、HgI2晶体探测器、半导体致冷Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器、高纯锗晶体探测器、电致冷或液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体探测器、Ge(Li)锂漂移锗探测器等。
目前常用的是电致冷或液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体探测器、Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在对荧光探测的检出限、分辨率、探测能量范围的大小等方面。 所以你要仪器的检出限好你就要看它了。
低档探测器有效检测元素数量少,对被测物质中微量元素较难检测,分辨率一般在700-1100eV,一般可分析材料基体中元素数量较少,元素间相邻较远,含量较高的单个元素。
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第14楼2009/06/12
前面那两档检测器,不能完全符合RoHS的要求,很多生产xrf的公司都宣称他们的仪器能对Na到U元素进行检测,但测试的时候能把na到u元素分开吗,我们都知道相邻元素会互相干扰,如果干扰了,你说做出来的数据会准确吗?
Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器的分辨率一般是200eV – 270eV,电致冷或液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体探测器的分辨率为140eV –165eV.电制冷不需要消耗液氮,但他制冷工艺复杂,价格也最贵,靠消耗电来制冷,分辨率比液氮稍逊,但也完全符合rohs检测的要求。液氮制冷需消耗液氮,使用起来不方便,但液氮的温度很低,操作者必须注意安全,但它的分辨率比电制冷稍好。这里我们还要看探测器的面积,探测器面积越大,效率越高。测试的时间就越短。市面上探测器面积有5—15mm2不等。很多XRF厂商都宣称他们的仪器测试时间是3分钟,是出一个可靠的数据3分钟吗,还是减少测试条件,具体指减少滤光片的转换次数和live time来达到减少测试时间。的确很多XRF的测试时间能达到3分钟,但出的数据是很差的。只有极少数仪器能达到这个水平。测试时间对RoHS这个行业也是很重要的,因为很多厂家的需检测的产品比较多,一天可能有300多个,甚至更多。如果购买了了一台低效率的XRF,你可能要再买几个才能满足你的测试量。
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第16楼2009/06/12
谈下XRF的几个指标:
检出限有的XRF商家称检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM。很多XRF商家使用仪器的检出限来迷惑客户,宣称他们的仪器检出限很低,能完全满足你的需要。仪器检出限是三倍仪器噪音的值,在实际使用中没有多大的意义。其实客户关心的是方法检出限,有现实意义的是方法检出限,也就是说在满足其它质控要求的条件下,实验所用的方法能从样品中检出目标物的最小浓度。所以以后XRF商家说他们的仪器检出限有多么低的时候,你可以问下他们的方法检出限是多少。因为大家都知道在实际检出中,都存在基体干扰的,如果分辨率不好,虽然仪器检出限很低,但到具体检测一个样品的时候,方法检出限可能会使仪器检查限的几倍甚至几十倍。