shaweinan
第22楼2009/07/02
不错,对于固体成像检测器的单个像素来说确实存在光电子的容量问题,这也是CCD会产生饱和溢出的原因所在,但它并不表明其检测线性范围不能达到9个数量级,而且这一数值在有的教科书上已经看到。
做ICP的人都很清楚,应该很少有人去用强的灵敏线和弱的非灵敏线去作同一条分析校正曲线的,虽然可能会用强线去测低含量的成分弱线去测高含量的成分,这是最起码的基础知识。而且ICP定量分析的线性范围是4个数量级到6个数量级,这在上个世纪70年代就已经形成定论了的事。所以说你用ICP发射光谱一条谱线得到的只是这种方法的线性范围,而不是检测器的线性响应范围。想要测出检测器的响应范围自然得分别选用弱线和强线了。
shaweinan
第23楼2009/07/02
[div]原文由 cavelong 发表: 感谢您的补充。
不过您所说的第一点我不太认同,回头我也请教一下相关专家。
CCD检测器和CID检测器工作的时候实际上都是要接纳电子信号的,并不是自身产生电子信号。除了读取方式不一样以外,CCD和CID实际上是没有任何区别的,而像素点在接纳电子信号的时候,就一定会受到这个物理限制,无论是CID还是CCD,其固有的这个限制的确制约着其线性范围。
至于您的第二条,的确,长期稳定性光电倍增不一定就比固体成像检测器的要好,但是有一点,长期稳定性是光电倍增管的传统优势,好的专业型CCD检测器的确也能表现出很好的稳定性,加上制冷环境,好过常规PMT也属正常,但实际的情况是,目前几乎所有的ICP都是使用的普通商业型CCD或CID,坏的像素点过多,往往是通过插值运算来弥补,也许这类型检测器也能做到非常好,但在这种情况下哪种检测器在工作上更容易做到更稳定也就一目了然了。
至于第三点:我也赞同您的观点,但道理还是同上。
PMT不是完美无缺的,说它长期稳定性好,灵敏度更好,检出限容易做到更好,并不是说该类型检测器就没有影响这些指标的负面因素在里面,而是说,这些负面因素相对于CCD和CID检测器而言,影响幅度相对小,弥补或者说处理方式相对也容易的多,也有效不少。[/div]
[div]原文由 icp_icp 发表: 这是我看到最好的解释,没有任何偏颇。[/div]
[div]原文由 shaweinan 发表: 是吗?不见得吧,呵呵。[/div]
[div]原文由 cavelong 发表: 哪里说的不对望指出,真要犯了低级错误改就是了!捂着小嘴笑干嘛呢这是……
在这个大染缸里混了这么几年,感觉自己唯一的长进就是脾气好多了[/div]
不要见怪,人无完人,谁能无错?特别是在专业知识方面。所以我并不是笑谁有什么话说得不对,或是犯了什么错误,只是觉得话最好不要说得太绝对,“没有任何偏颇。”这种说法你不觉得有问题吗?