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  • 第21楼2005/07/28

    前者似乎一般人都这么讲，但后者，我理解是对样品表面形态有要求的：必须在平坦的前提下才可以这样讲（因为背散射像中包含了二次电子信号，所以高低起伏的表面形貌会使图像衬度受到影响，而成分像又是由衬度来区分不同成分的区域）．

    renxin 发表:请问， 我们利用二次电子观察样本形貌， 利用 背散射电子观察样本成分， 这个概念到底对不对。

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  • 第22楼2005/07/28

    是的，我也是这样理解的．二次电子像也可以反映样品的成分，但原子序数相差远衬度比较明显，如果是相邻的两个元素就不明显了．曾经把一片光滑的铝箔贴在铜样品台上，二次电子不仅反应出它们各自的形貌，还明显地看出铝箔区域和铜样品台区域有明显的灰度差别．

    shxie 发表:这个跟SE和BSE探头收集的信号有关系吧，二者都包含了SE和BSE信号，只是比例不同，SE电子反应的是样品表面5－10 nm的信号，是形貌，BSE是微米级深度的信号，应该和成份有很大关系，但是我们得到的SE图像和BSE图像其实两者都包含，也就不能严格的定义为形貌像和成份像。
    是不是这个意思？

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  • 第26楼2005/07/28

    LEO电镜上有一个SEI+BEI指的是什么意思呢？我曾经观察一个Pb＋Sn＋微米级Al2O3颗粒，用SEI观察Pb和Sn无衬度差异而Al2O3颗粒很亮，用BEI观察Pb、Sn和Al2O3颗粒有明显的衬度差异，其中Pb亮、Sn灰、Al2O3黑。

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  • 第27楼2005/07/28

    我还真没有注意到这个 SEI+BEI，请问您用的LEO是什么型号的。

    sysmith 发表:LEO电镜上有一个SEI+BEI指的是什么意思呢？我曾经观察一个Pb＋Sn＋微米级Al2O3颗粒，用SEI观察Pb和Sn无衬度差异而Al2O3颗粒很亮，用BEI观察Pb、Sn和Al2O3颗粒有明显的衬度差异，其中Pb亮、Sn灰、Al2O3黑。

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  • 第28楼2005/07/28

    这里有个概念错误。二次电子不可能反映成分， 您看到的灰度差别是所谓的二次电子检测器所检测到的背散射电子成分。

    yiruo 发表:是的，我也是这样理解的．二次电子像也可以反映样品的成分，但原子序数相差远衬度比较明显，如果是相邻的两个元素就不明显了．曾经把一片光滑的铝箔贴在铜样品台上，二次电子不仅反应出它们各自的形貌，还明显地看出铝箔区域和铜样品台区域有明显的灰度差别．

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  • 第30楼2005/07/29

    谢谢斑竹纠正．猫的文字表达有点问题，当时是想说明的其实是您现在说的这个概念，因为做那个实验就是在教学观摩课上为了形象地表达二次电子像中包含了背散射信号．：）：）
    [/quote]
    这里有个概念错误。二次电子不可能反映成分， 您看到的灰度差别是所谓的二次电子检测器所检测到的背散射电子成分。
    [/quote]

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  • 第34楼2007/12/11

    弱弱的问：扫描电镜不是主要就是观察表面形貌吗？我们很少用BSE，不知道什么时候适合用它？

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  • 第36楼2008/01/27

    看成份像時用到﹖
    特別是合金層面效果更明顯﹗（兩不同材質的結合面）

    licoun 发表:弱弱的问：扫描电镜不是主要就是观察表面形貌吗？我们很少用BSE，不知道什么时候适合用它？

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  • 第37楼2008/04/14


    "用半导体式背散射探头的形貌像模式可以得到样品单纯的起伏像，也就是形貌像，"
    半导体式背散射探头收集的是什么信号?纯的SE?信号?

    semuser 发表:单纯的形貌像是可以得到的，用半导体式背散射探头的形貌像模式可以得到样品单纯的起伏像，也就是形貌像，但图像起伏效果显得比较圆滑，真实度不如二次电子像；
    浅层像，我理解是低加速电压二次电子像；
    纯的成分像有点麻烦，背散射探头的成份像模式依然含有形貌信息，好像只有能谱的面分析时有纯的成分像。
    老大，何时有答案？

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