我觉得宏观和微观没有谁好谁劣的问题，就看需要哪方面的数据了。晶体数据库采用XRD数据的原因之一是因为微观数据波动较大，不利于直接核对，而宏观数据的稳定性很好。但是这种波动和稳定主要是材料本身决定的，微观波动大，是因为这些参数在微观尺度本来就波动大，不是完全因为技术原因造成的。这种波动有时候是有用的，比如掺杂材料内部掺杂不均匀造成的晶格改变，用CBED可以很好地确定各部位的准确掺杂浓度。
至于测量精度，细致的CBED实验精度可以相当高，就象templus说的。

这图中没有空间的信息。这是参照教科书中测量值和真实值之间标准偏差和系统偏差的对照图像，觉得这个很类似很形象，就搬到这里了。当然只是个人理解，不能被正式引用，呵呵

有比较才有鉴别，对具体差别的讨论有助于我们和后人明白：哪一种技术对于什么样的问题最有说服力。楼主引入的问题是晶格参数的精确测定，我的观点是ED不比XRD。

CBED的精密性，即它的σ值很小这已经是共识。对于蓝莓版主可能没有理解到的细节差异，这里我对9楼的图片补充说明下，CBED相对XRD-SR存在的不足是：当你用CBED测定一个微区晶格参数时，凭什么来判断这个区域strain存在与否？凭什么判断strain的正负？？我认为单有CBED的测量结果不能判断测量微区strain的存在与否和正负，也正是因为strain的存在导致CBED的微区晶格常数不能作为标准参考，除非你对大量strain正负均匀分布的微区进行统计测量，而在电镜下对微区的千千万万的次选取和测量显然不practical，而这恰好是XRD-SR弥补它的地方。是不是这样？

CBED是测量晶格常数，然后把测量值和标准值做比较研究应力问题。晶格标准值是无应力状态下的晶格常数，通常就是XRD等技术得到的宏观平均。另外，某些很先进的CBED工作还会研究应力状态下衍射盘里面的精细衬度得到局部应力场分布。我记得Florent Houdellier和Martin Hytch做过一些这方面的东西。从研究思路上来说，基本过程就是测量和拟合，这跟XRD方法其实是一样的，只是实现手段不同。

这个讨论启发我发了一个原创，增加了中子衍射的对照讨论：
http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20090822/2071044/