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  • 第11楼2005/08/10

    前两个基本正确, 第三个样本电流错误。
    样本电流指的是 电子束 打在样本上并被成功接地 所产生的电流, 不只是充电效应后再放电产生的电流。
    多数电镜 都有这个样本电流功能的 选择权, 如果买电镜的时候没要,后来可以再加, 或者直接购买 市场上的皮安表, 将电镜中的 样本台接地报警 电缆连接到皮安表上直接测量。
    样本电流是电镜最重要的数据之一, 因为所有的 电流值读数都不如样本电流能够直接反映观测样本的效率。
    比如系统显示探针电流或者 电子束流 (BEAM CURRENT)是 5NA, 但经过检测 真正被接地的电流只有 3NA, 那么我就认识到实际上我的束流并不像系统显示的那么好。
    样本电流的功能 对能量谱分析带来的好处最大, 经验丰富的能谱操作员都会检测样本电流, 以确认样本导电率, 保证定量分析的成功率。
    在场发射电镜中,样本电流是唯一能够确定 发射尖端工作是否 高效和正常的 标准。
    还有,如果使用场发射电镜做能谱, 样本电流将是必备的功能。

    cz_sem 发表: 发射电流 (EMMISSION CURRENT)是不是灯丝经加速电压发射出的电子的电流
    探针电流 (PROBE CURRENT)就是电子束会聚后的束流
    样本电流(SPECIMEN CURRENT)是导电样品的电子通过接地的方式将样品的电荷引走以免造成电荷积累所形成的电流,一般电镜都不测量显示它.
    瞎猜的,想知道正确答案.

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  • 第12楼2005/08/10

    基本正确, 但较精确的讲, 发射电流 是指的 系统第一的 束斑 到阳极之间的电流。
    钨灯丝的发射电流很高, 在微安级, 能量足 可以轻易融化金属。
    探针电流是指 通过镜筒各级电磁透镜之后,所用来观察样本的电子束的电流,一般在 纳安级,高分辨率观测时,会到皮安级, 甚至 法安级(FA)。

    shxie 发表:老实话:我不太清楚,猜一下吧:
    发射电流是不是灯丝被电场拉出电子并通过加速器加速后的电流大小?还是照在样品上感知的电流大小?
    探针电流针对的是电子微探针(EMPA)说的吧,和发射电流应该是一样的道理,只是因为仪器不同说法不一样?
    样本电流就第一次听说,是电子束和样品作用之后样品表面因为不同导电性能不同高度而对应的不同电流密度值?

    砖头扔出来了,大家捡起来猛拍吧,呵呵

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  • 第13楼2005/08/10

    钨灯丝电镜系统 只有一个阳极, 位置在 发射枪部位, 阴极之下, 因为加速电压再高也是负压, 阳极的功能 就是吸引和定为这个负压。
    场发射有两个阳极,作用稍有不同。
    你在回答中所讲的阳极我不太明白。

    SeanWen 发表:愚见:
    发射电流:加在灯丝上用于激发电子的电流;
    探针电流:电流大小由单位时间内通过的电子数表示,探针电流应该可以反映电子束的强度;发射电流越大,产生的电子会更多,探针电流相应应该会更大;
    样品电流:电子束轰击在样品上,部分电子的能量会被样品吸收,被阳极吸引而定向流动产生的电流。
    以上只是自己的想法,请批评、赐教!!谢谢!

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  • 第14楼2005/08/10

    你这个贴子重复了,我得 删除。

    SeanWen 发表:

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  • 第15楼2005/08/10

    你这里讲的都对,多谢你的附图。
    但是发射电流和 灯丝电流 (FILAMENT CURRENT)可是完全不同的概念呦, 灯丝电流 是 在安培级, 发射电流就 只在 微安级。

    SeanWen 发表:我想纠正一下昨晚提出的关于发射电流(灯丝电流)跟束流之间的关系。Rexin斑竹应该想讲的话题是调整灯丝工作点时出现的曲线。灯丝电流增加,束流也呈增加趋势,但不是很平滑的增加,也不是一直增加。曲线中间会出现一个假峰,这是因为灯丝某个特殊部位比尖端先达到发射温度,该部位发射电子而产生的;而当灯丝电流超过某一最小值的时候,束流就基本不改变,这是因为灯丝电流超过工作点之后,在栅极帽的偏压也会随着增加,使灯丝周围的负电场梯度上升,从而限制了束流的增加。

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  • 第16楼2005/08/10

    假峰 (FAKE PEAK) 也叫第一峰 (FIRST PEAK), 但不是 第一饱和点呦。
    钨灯丝只有一个饱和点。
    假峰完全可以胜任 大多数的工作, 还可以延长工作寿命, 但稳定性较差,不适合高分辨率工作。

    cz_sem 发表:是假峰?好象叫第一饱和点和第二饱和点啊

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  • 第17楼2005/08/10

    精彩, 新兵不新呦, 概念相当清楚。
    不过SEM中有时也叫 BEAM CURRENT 和SPOT SIZE, 不同厂家教法不同, 很容易糊涂呦, 这也是为什么问这个问题的原因。

    juejueld 发表:TEM中beam current 相当于 SEM中emmission current 是指没有经过透镜汇聚 灯丝直接发出的电流

    SEM 中probe current 相当于TEM中的 spot size 就是经过透镜汇聚以后的电流强度啦

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  • 第18楼2005/08/11

    版主删帖子会扣分扣声望的,建议投条让发贴人自己删除,不过萧文也不会在乎这个啦,呵呵

    renxin 发表:你这个贴子重复了,我得 删除。

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  • 第19楼2005/08/11

    汗颜啊!怎么总是这几个人在讨论啊,有一点华山论剑的味道。

    不过华山论剑也不应该只有前辈哈

    没考虑过收几个徒弟,再来个**论刀


    斑竹开恩,这是我发现这个世外桃源之后,每天拜读各位老师的大作之后的真实想法。
    呵呵

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  • 第20楼2005/08/11

    说的有趣,不过我可算不上前辈,renxin大侠应该算是资格最老的了,在电镜界还排不到前辈,哈哈。不过版面上喜欢说话的朋友不多,也就有了你这种印象啦,就我所知,很多人来这里看,但并不发言的,如果你多发言,慢慢也就会成为你说的前辈啦

    silsil 发表:汗颜啊!怎么总是这几个人在讨论啊,有一点华山论剑的味道。
    不过华山论剑也不应该只有前辈哈
    没考虑过收几个徒弟,再来个**论刀
    斑竹开恩,这是我发现这个世外桃源之后,每天拜读各位老师的大作之后的真实想法。
    呵呵

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